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型号： JEM-F200
厂商：日本电子株式会社

设备参数
  电子枪：冷场场发射电子枪
  加速电压：20-200KV，
                    连续可调，步长50V
  束流：≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
  能量分辨率：≤ 0.3 eV
  图像分辨率:  
    TEM点分辨率：≤ 0.23 nm
    TEM线分辨率：≤ 0.10 nm
    STEM暗场分辨率：≤ 0.16 nm
  放大倍数：
    TEM模式 ×20 - 2,000,000
    STEM模式 ×200 - 150,000,000
  标准双倾杆倾斜角度：X/Y ≥ ± 35°/± 30°
  能量过滤分析系统:   
    能量分辨率: ≤ 0.5eV
    图像畸变: ≤0.75%
  能谱系统：  
    探测器有效面积：≥ 2×100 mm2
    能量分辨率：≤ 133 eV
    元素检测范围：B-U

主要用途：

    除进行常规的材料内部显微形貌彩票平台-登录、结构、晶体结构彩票平台-登录彩票平台-登录、高分辨成像彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录、晶体位向和物相分析外彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录，还可以利用3D 重构软件对材料的三维结构进行重构；以及利用电子能量损失谱（EELS）表征不同原子及不同原子价态的分布彩票平台-登录。