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    高分辨场发射透射电子显微镜
    发布人:施安峰  发布时间:2019-12-12   浏览次数:180

    型号: JEM-F200
    厂商:日本电子株式会社


    设备参数
      电子枪:冷场场发射电子枪
      加速电压:20-200KV,
                        连续可调,步长50V
      束流:≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
      能量分辨率:≤ 0.3 eV
      图像分辨率:  
        TEM点分辨率:≤ 0.23 nm
        TEM线分辨率:≤ 0.10 nm
        STEM暗场分辨率:≤ 0.16 nm
      放大倍数:
        TEM模式 ×20 - 2,000,000
        STEM模式 ×200 - 150,000,000
      标准双倾杆倾斜角度:X/Y ≥ ± 35°/± 30°
      能量过滤分析系统:   
        能量分辨率: ≤ 0.5eV
        图像畸变: ≤0.75%
      能谱系统:  
        探测器有效面积:≥ 2×100 mm2
        能量分辨率:≤ 133 eV
        元素检测范围:B-U


    主要用途:

        除进行常规的材料内部显微形貌彩票平台-登录、结构、晶体结构彩票平台-登录彩票平台-登录、高分辨成像彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录、晶体位向和物相分析外彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录,还可以利用3D 重构软件对材料的三维结构进行重构;以及利用电子能量损失谱(EELS)表征不同原子及不同原子价态的分布彩票平台-登录。

     
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