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型号：Contour GT-K
厂商：德国Bruker公司

设备参数：
    测量范围：PSI模式≤160nm
                        VSI模式≥160nm
    垂直测量范围：0.1nm 至 1mm
                              全量程闭环扫描
    垂直分辨率：<0.1nm Ra
    RMS重现性：0.01nm
    垂直扫描速度：达7.2μm/s以上
    横向分辨率：0.08 - 13.1μm
    视场范围：8.24mm - 0.05mm

主要用途：

      Bruker光学轮廓仪是一种双LED光源的非接触式光学仪器彩票平台-登录，对样品基本上没有损害彩票平台-登录。视样品选择不同测量模式。相移干涉模式(PSI)主要用于测量光滑表面粗糙度彩票平台-登录；垂直扫描干涉模式(VSI)则可以做高度彩票平台-登录彩票平台-登录、宽度彩票平台-登录彩票平台-登录、曲率半径彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录，粗糙度的计测等彩票平台-登录彩票平台-登录。