型号:Contour GT-K
厂商:德国Bruker公司

设备参数:
测量范围:PSI模式≤160nm
VSI模式≥160nm
垂直测量范围:0.1nm 至 1mm
全量程闭环扫描
垂直分辨率:<0.1nm Ra
RMS重现性:0.01nm
垂直扫描速度:达7.2μm/s以上
横向分辨率:0.08 - 13.1μm
视场范围:8.24mm - 0.05mm
主要用途:
Bruker光学轮廓仪是一种双LED光源的非接触式光学仪器彩票平台-登录,对样品基本上没有损害彩票平台-登录。视样品选择不同测量模式。相移干涉模式(PSI)主要用于测量光滑表面粗糙度彩票平台-登录;垂直扫描干涉模式(VSI)则可以做高度彩票平台-登录彩票平台-登录、宽度彩票平台-登录彩票平台-登录、曲率半径彩票平台-登录彩票平台-登录彩票平台-登录,粗糙度的计测等彩票平台-登录彩票平台-登录。